2018年6月24日 星期日

CALMETRICS Standards for X-ray Coating thickness measurement

CALMETRIES STANDARDS標準片適用於FISCHEROXFORD(CMI)BOWMANHITACHI(SEIKO)MICRO PIONEERBRUKERDENSOKUSKYRAYX-WINREGAKU X-Ray膜厚儀(X-ray Coating thickness measurement )

CALMETRIES是經過ISO 17025認證的全球最大標準片製造廠商, 提供各種厚度及合金材料的標準片。

所製造高精度的標準片能夠適用任何廠牌X-Ray膜厚儀的校準,包含任何電鍍層厚度和組成分析系統。

產品包括:薄膜式(單層&多層與合金膜),電鍍式,包括合金和純元素底材,可廣範應用於所有行業。

經驗豐富的團隊提供專業的諮詢,培訓,維護和技術支持服務,為客戶在全球金屬加工,貴金屬,微電子,科技研發,環保等市場領域。

除了X-Ray標準片產品,我們還提供了非磁性(渦電流),磁性(電磁式),表面銅(微電阻式)膜厚儀標準片及可追朔至NIST國際標準的校正報告。

奧 創 科 儀 有 限 公 司 
Angstrom Scientific Instrument Corp. Ltd.
業務接洽   : 柳 俊 卿    Jack Liou
TEL: +886(02)2933-5335
FAX: +886(02)8192-7154
行動  : 0931.299.629

檢測服務項目
聚焦離子束儀(FIB)
場發射式掃描式電子顯微鏡(FE-SEM)
共軛交顯微鏡(Confocal Microscope)
X-ray螢光測厚儀(XRF)

離子束剖面研磨(CP)

2018年4月12日 星期四

Buehler是世界領先的材料製備和分析儀器、設備、耗材及應用解決方案供應商。













Buehler 是最早在材料分析領域,製造並研發科學設備和材料的廠商。現已在9個國家成立辦事處、在100多個國家設立銷售據點並擁有超過45個Buehler試樣製備解決方案中心。
Buehler公司由瑞士移民 A.I. Buehler在1936年建立。他發現了在美國中西部人們對於鋼鐵和汽車行業的金相樣品製備和光學檢測儀器的需求。
八十年後,Buehler被公認為世界領先的材料製備和分析儀器、設備、耗材及應用解決方案供應商。

奧 創 科 儀 有 限 公 司
Angstrom Scientific Instrument Corp.

業務接洽 : 柳 俊 卿 Jack Liou

TEL: +886(02)2933-5335

FAX: +886(02)8192-7154

行動 : 0931.299.629

E-Mail: Taiwan@angstrom.com.tw

http://www.angstrom.url.tw/index.html

2018年4月11日 星期三

Leica顯微系統 (Leica Microsystems)





 Leica顯微系統 (Leica Microsystems) 是德國著名的光學製造企業,具有160余年的悠久歷史,也是目前同行業中唯一能夠同時提供顯微鏡、圖像採集產品、圖像分析軟體的公司。Leica顯微系統是全球創新的光學系統、影像拍攝以及圖像分析軟體領導者,提供宏觀、微觀及奈米結構的影像及分析服務。

奧 創 科 儀 有 限 公 司
Angstrom Scientific Instrument Corp.
業務接洽 : 柳 俊 卿 Jack Liou
TEL: +886(02)2933-5335
FAX: +886(02)8192-7154
行動 : 0931.299.629
E-Mail: Taiwan@angstrom.com.tw
http://www.angstrom.url.tw/index.html

CALMETRICS X-Ray膜厚儀標準片

CALMETRICS 膜厚儀標準片


FOIL SINGLE LAYER(單層薄膜式)

FOIL DUAL LAYER(雙層薄膜式)
FOIL 3 & 4 LAYER(3~4層薄膜式)
FOIL Alloy(合金薄膜式標準片)
Plated Single Layer(單層鍍層式)
Plated Single Layer(合金鍍層式)
Infinite(∞) Element Standards(無限大元素片)
Alloy(合金元素片)
Cu/Epoxy (PCB表面銅標準片)
Gauging sheet(手持式膜厚儀標準片)

奧 創 科 儀 有 限 公 司
Angstrom Scientific Instrument Corp.
業務接洽 : 柳 俊 卿 Jack Liou
TEL: +886(02)2933-5335
FAX: +886(02)8192-7154
行動 : 0931.299.629
E-Mail: Taiwan@angstrom.com.tw
http://www.angstrom.url.tw/index.html

2017年11月7日 星期二

應用說明

FIB ( Focused Ion Beam) 
聚焦離子系統是利用離子束對指定的區域進行埋切及修飾,透過反射的離子或電子進行偵測,可得到指定位置之橫切面影像。目前廣泛被使用在電子工業及材料之異常分析應用上。



FE-SEM (Field Emission - Scanning Electron Microscope)
掃描式電子顯微鏡是藉由聚焦電子束掃描樣品的表面,產生樣品表面之形貌;搭配EDX (Energy-dispersive X-rayspectroscopy )可對於指定位置進行元素分析。



(Confocal Microscope) 
共軛交顯微鏡是透過雷射掃描之原理,在連續擷取 Z 軸序列圖檔後,可由軟體投影處理並量測。應用於表面觀察/斷差量測/粗糙度量測/2D 3D影像觀察。


(X-Ray Fluorescence coating thickness measurement) 
螢光測厚儀可透過元素之特徵螢光,達到非破壞性量測金屬鍍層厚度及成分比例 (例如: 鎳/鈀/金/銀/錫/銅厚度及化學鎳之磷含量)











(Cross section Polisher)
離子束剖面研磨是利用氬離子束去切削出樣品之剖面,避免研磨過程中的應力影響以及解決軟性材料在研磨過程中所造成的延展。















奧 創 科 儀 有 限 公 司
Angstrom Scientific instrument Co.,Ltd.
聯絡人:柳俊卿 0931299629
TEL : (02)2933-5335
FAX : (02)8192-7154
E-mail : Taiwan@angstrom.com.tw
http://www.angstrom.url.tw/